蔡司Crossbeam双束电镜FIB/SEM
蔡司Crossbeam
专为高通量三维分析和样品制备量身打造的FIB-SEM
将高分辨率场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）的成像和分析性能与新一代聚焦离子束（FIB）的加工能力相结合。无论在科研机构还是工业实验室，您都可以在多用户实验平台中工作。利用蔡司Crossbeam的模块化平台概念，根据日益增长的需求升级您的系统，例如使用LaserFIB进行大规模材料加工。在切割、成像或执行三维分析时，Crossbeam将提升您的FIB应用效率。
使您的SEM具备强大的洞察力
提升您的FIB样品制备效率
在您的FIB-SEM分析中体验出色的三维空间分辨率
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在您的FIB-SEM分析中体验出色的三维空间分辨率
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| 传统TEM薄片样品制备 TEM薄片制备对于几乎每个FIB-SEM用户来说都至关重要。蔡司为特定位置的样品制备提供引导式工作流，加工出的薄片非常适合原子分辨率程度的高分辨率TEM和STEM成像和分析。您可导航到样品的感兴趣区域（ROI），从大块样品中提取包括感兴趣区域（ROI）在内的TEM薄片，进行大体积切割或挖槽的步骤，并在适当的地方进行提取和减薄来完成工作流程。 | |
 | 传统TEM薄片样品制备 1.导航到样品的感兴趣区域(ROI)
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传统TEM薄片样品制备 2.从大块样品中制备薄片
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硬盘滑块样品中的薄片块。使用自动样品制备制成，包括倒角 | |
从大块样品中提取薄片。 | 传统TEM薄片样品制备 3.提取
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传统TEM薄片样品制备 4.减薄
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减薄过程同时检测厚度(左侧)和终点(右侧) | |
 | 高级全自动TEM薄片制备 借助全自动解决方案，半导体实验室可以大大提高TEM薄片制备的效率。优化配置的蔡司Crossbeam 550 Samplefab高端FIB-SEM可为您带来以下优势：
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高级全自动TEM薄片制备 1.自动化工作流步骤
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| 高级全自动TEM薄片制备 2.一个用户界面
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高级全自动TEM薄片制备 3.免操作完成单个或批量薄片制备
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Crossbeam Laser工作流程快速到达感兴趣的深埋位置，进行跨尺度的关联工作流程，并通过大体积分析获得更好的样品代表性。执行EDS或EBSD等三维成像和分析。现在，半自动设备可以帮助您节省时间，提高工作效率。 为您的Crossbeam添加一个飞秒激光器，从而获得在特定位置极快速制备样品的优势。保持FIB-SEM样品仓清洁，并在需要时通过半自动工作流程远程操作系统。 您可获得以下优势：
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采用铜microbump和倒装芯片互连技术的多芯片封装，激光切割和FIB抛光截面，沟槽深度1.6mm。 | CROSSBEAM LASER工作流程 1.快速访问、优化制备和多尺度
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CROSSBEAM LASER工作流程 2.工作流程自动化
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LaserFIB，细节图，激光样品仓和激光光学系统在右侧，FIB-SEM样品仓在左侧。 | |
三个激光切割铜的沟槽，横向射流关(上)和开(下)。 | CROSSBEAM LASER工作流程 3.保持清洁，确保高效率和易用性
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CROSSBEAM LASER工作流程 4.迈入样品制备的新世界
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使用Burst模式在约30秒内激光切割的25个硅微柱阵列，准备使用镓FIB进行精抛。 | |
冷冻条件下的TEM薄片制备和体积成像冷冻电镜技术可以检查接近原生状态的细胞结构。然而，用户面临着一些复杂的挑战，如冷冻样品制备、去玻璃化、冰污染、样品丢失或不同成像模式之间无法关联。蔡司冷冻关联工作流程通过简单易用的无缝工作流程，将宽场、激光共聚焦和聚焦离子束扫描电子显微镜关联起来。它还针对冷冻关联工作流程的需求对软硬件进行了优化，从荧光大分子的定位到高衬度体积成像以及冷冻透射电子断层扫描的薄片样品制备。 | ||
冷冻关联薄片工作流 接近原生状态的成像
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 | 精简的工作流程，帮助您专注于研究 Correlative Cryo Workflow(冷冻关联工作流程)让您可以在冷冻条件下掌握具有挑战性的不同成像模式组合。这一工作流程解决方案将光学和电子显微镜连接起来，实现了冷冻体积成像和冷冻TEM薄片的高效制备。专用配件精简了工作流程，方便冷冻样品在显微镜之间的安全转移。蔡司ZEN Connect可保障数据管理，让您对整个工作流程的数据都了如指掌。一系列处理工具帮助您增强成像结果。 | |
出色的部件为您提供高质量的数据 借助兼容低温的冷冻物镜和Airyscan探测器的高灵敏度，蔡司LSM系统让您能够以高分辨率检测蛋白质和细胞结构，同时低光毒性的照明和恒定低温系统可防止您的样品产生去玻璃化效应。无需对您的样品进行重金属染色，Crossbeam FIB-SEM便可为您呈现高衬度的体积成像。这两种模式都提供了宝贵的功能和结构信息，无论您是否跟进后续的TEM研究，都可以对超微结构有全面的了解。 |  | |
 | 多用途解决方案，保证您成像设备的效率 与其他解决方案不同，工作流程中所涉及的蔡司显微镜不仅可以用于冷冻电镜，还可以用于室温应用，这在显微镜并非完全只用于冷冻实验时尤为有利。用户无需专业技术知识，即可快速将设备从冷冻切换到室温使用。该灵活性让您有更多的时间进行实验，而成像设备让您拥有更高的利用率和更快的投资回报。 | |
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